В Казани прошел IV Международный инновационный нанотехнологический форум «NANOTECH 2012»
27-29 ноября 2012 года в г.Казани прошел IV Международный инновационный нанотехнологический форум «NANOTECH 2012». Открытие форума состоялось на площадке технопарка в сфере высоких технологий «ИT-парк». В мероприятии приняли участие председатель Государственной Думы РФ Сергей Нарышкин, Президент РТ Рустам Минниханов, председатель Правления ОАО «Роснано» Анатолий Чубайс, а также губернаторы участники Ассоциации инновационных регионов России, представители федеральных органов государственной власти, крупных компаний, научных и образовательных учреждений, ведущие российские и зарубежные ученые.
В рамках форума состоялись торжественное открытие Центра нанотехнологий Республики Татарстан, выставка-презентация проектов в сфере высоких технологий и пленарное заседание, в которых, в том числе, принял участие заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Федор Булыгин. На второй день Форума для участников форума были организованы ряд секций с обсуждением проблематики нанотехнологий в различных отраслях экономики. Важным событием стало проведение круглого стола «Техническое регулирование в сфере наноиндустрии», инициатором и основным организатором которого стал ФБУ «ЦСМ Татарстан».
Открывая заседание круглого стола, директор ФБУ «ЦСМ Татарстан» Валерий Алексеевич Гогин отметил актуальность и важность обсуждения вопросов технического регулирования в такой стремительно развивающейся сфере, как в сфере наноиндустрии. Поддержали эту позицию в ходе вступительной речи и остальные модераторы круглого стола: Виктор Быков, президент Нанотехнологического общества России, генеральный директор ЗАО «НТ-МДТ»; Юрий Ткачук, руководитель дирекции стандартизации Фонда инфраструктурных и образовательных программ РОСНАНО; Владимир Крутиков, директор ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений». После этого более 50 участников круглого стола с интересом выслушали 10 докладов, освещающих вопросы технического регулирования в сфере наноиндустрии.
С первым докладом «От комплекса мер по нормативно-техническому обеспечению к устойчивому выходу инновационной нанотехнологической продукции на рынок» выступил Юрий Ткачук. Особое внимание в своем докладе он уделил инструментам выхода на рынок инновационной продукции наноиндустрии, в числе которых стандартизация инновационной и нанотехнологической продукции, в особенности композиционных материалов и изделий из них, а также недавно созданный Росстандартом, Роснано и Фондом «Сколково» Центр стандартизации в инновационной сфере.
Доклад Владимира Крутикова был посвящен метрологическому обеспечению испытаний продукции наноиндустрии. Начав с описания общих принципов функционирования системы обеспечения единства измерений в Российской Федерации в целом, докладчиком была описана роль, структура и задачи Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Второй доклад Владимира Крутикова посвятил результатам деятельности ФГУП «ВНИИМ им.Д.И.Менделеева» в области обеспечения единства измерений продукции наноиндустрии.
Следующим, с докладом «Стандартизация в сфере нанотехнологий» выступил директор ФГУП «ВНИИНМАШ» Александр Бубнов, который подробно рассказал о создании и работе национального Технического комитета по стандартизации в сфере нанотехнологий, его взаимодействии с ИСО/TK 229 «Нанотехнологии», а также о результатах реализации программы стандартизации в наноиндустрии на 2010-2014 г.г, и примерах вовлечения промышленности в работы по стандартизации.
Закончил первую часть круглого стола технический директор ООО «Метрологический центр «ОАО «Роснано» Юрий Токунов. В своем докладе «Актуальность точных измерений в наноиндустрии» он информировал о результатах деятельность Метрологического центра РОСНАНО, в числе которых установленные измерительные потребности компаний, примеры разработанных методик измерений по измерению различных характеристик наноматериалов, а также проведение ежегодных школ «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии», которые стали эффективным инструментом по повышению квалификации специалистов в области метрологии наноиндустрии.
Следующий докладчик, заместитель директора ФГУП «ВНИИНМАШ» Павел Филиппов посвятил свое выступление перспективам развития техническое регулирования в интересах российского бизнеса. Докладчиком были кратко обозначены основные события по формирования системы технического регулирования в Российской Федерации, а также важные изменения в связи с началом функционирования таможенного союза и работы единого экономического пространства в рамках ЕвраАзЭС.
С содержательной презентацией выступил Сергей Голосной - руководитель регионального отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии в ЮФО и СКФО. В своем сообщении он указал на преимущества комплексного подхода в решении вопросов технического регулирования, обеспечения единства измерений и оценки соответствия продукции нанотехнологий. Ведь именно специфика измерений в нанотехнологиях и большое количество метрологических «барьеров» определяет необходимость продолжения работы по функционированию Центров метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий в регионах и созданию необходимого нормативного и технического инструментария в данной сфере.
Одним из самых интересных выступлений стал доклад Зуфара Халитова, инженера-исследователя Центра нанотехнологий Республики Татарстан, о структуре нанотрубок и проблеме их метрологии. В живой и доступной форме он рассказал о разнообразии видов нанотрубок и сложности определения точных параметров отдельных структур. Докладчиком были обозначены существующие проблемы идентификации нанотрубок и предложены возможные пути развития метрологии нанотрубок, что вызвало некоторую позитивную дискуссию в зале.
Следующим участником круглого стола инженером лаборатории метрологического обеспечения измерений дисперсных параметров аэрозолей, взвесей и порошкообразных материалов ФГУП «ВНИИФТРИ» Дмитрием Данькиным было доложено о методах и средствах метрологического обеспечения измерений параметров наночастиц в различных средах. В презентации с большим количеством иллюстраций, фотографий научного оборудования , а также графиков и формул, были отражены результаты большой работы проводимой ВНИИФТРИ в сфере метрологического обеспечения измерений параметров наночастиц.
Замыкающим докладом стал доклад главного специалиста – старшего научного сотрудника ФБУ «Нижегородский ЦСМ», к. х. н. Александра Малышева. В своем докладе «Деятельность РО ЦМО ПФО в области метрологического обеспечения нанотехнологий» он озвучил основные результаты Нижегородского ЦСМ в качестве Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Слушателям были представлены перечень государственных стандартных образцов, а также перечень проблемно-ориентированных методик измерений, разработанных и аттестованных ФБУ «Нижегородский ЦСМ». На примере одной из методик были приведены ее метрологические характеристики.
По окончанию выступления докладчиков отдельными участниками круглого стола были проведены адресные встречи и обмен контактной информацией. Затем желающие гости столицы Республики Татарстан были направлены на экскурсию по городу Казани. Участниками круглого стола было выражено общее мнение о высоком уровне организации стола и профессионализме докладчиков, что подтверждает необходимость проводить мероприятия такого рода на постоянной основе.